Fischer X射线镀层测厚仪，FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪，主要用于无损厚度测量和成分析。

菲希尔X射线镀层测厚仪，菲希尔荧光射线测厚仪，XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。

菲希尔X射线测厚仪 镀层厚度测量，双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析 （两层的厚度和合金成分都能被测量）；

贵金属镀层厚度测量，Fischerscope X-ray。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光光谱仪。

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