FISCHERSCOPE X-RAY XDLMPCB200/210，菲希尔无损测厚仪可用于检测金镍厚度，元素分析，涂层镀层检测，材料分析等。菲希尔X-RAY系列...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析，FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以...

Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/...

Fischerscope X-rayXDL210，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采...

FISCHERSCOPE GOLDSCOPE SD510 / 515，GOLDSCOPE SD 520 和 GOLDSCOPE SD 550 配备了数字脉冲处理...

Fischerscope X-RAY XAN250/252，高性能X射线荧光测量仪，配有非常先进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分...

FISCHERSCOPE X-RAY XULM240PCB，应用电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护电镀液中金属含量的...

菲希尔镀层测厚仪Fischer X射线,FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝...

菲希尔镀层测厚仪X荧光射线仪器，由于运用了各种测量技术，因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

菲希尔X荧光射线镀层测厚仪，取决于测量距离和孔径大小，实际的量点大小与视频。窗口中显示的一致，小测量点大小：约为φ0.51mm

FISCHER X荧光射线测厚仪 菲希尔，手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能最多样化的设备。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。

XDAL237菲希尔X射线测厚仪，在设计上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希尔，根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用...

菲希尔X荧光射线测厚仪Fischer，菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

Fischerscope XAN215镀层测厚仪，FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款颇具性价比的入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层...

菲希尔代理X荧光射线测厚仪，配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面，这样就可以检查其均匀性。

X射线测厚仪，XUL仪器适合测量不同形状的细小工件，如螺丝，螺钉或螺帽，连接器触点及其它电子元器件。